什么是缺陷密度？计算公式与示例

什么是缺陷密度？

缺陷密度是软件/模块中确认的缺陷数量 在特定 的时期 操作或 开发时间除以软件/模块的大小。它可以帮助人们决定某个软件是否已准备好发布。

缺陷密度按每千行代码计算，也称为 KLOC。

如何计算缺陷密度

测量缺陷密度的公式：

Defect Density = Defect count/size of the release

发布的大小可以用代码行（LoC）来衡量。

缺陷密度示例

假设您的软件产品中集成了 3 个模块。每个模块都发现了以下数量的错误 -

• 模块 1 = 10 个错误
• 模块 2 = 20 个错误
• 模块 3 = 10 个错误

总错误数 = 10+20+10 =40

每个模块的代码总行数为

• 模块 1 = 1000 行
• 模块 2 = 1500 行
• 模块 3 = 500 行

总代码行数 = 1000+1500+500 = 3000

缺陷密度的计算公式为：

Defect Density = 40/3000 = 0.013333 defects/loc = 13.333 defects/Kloc

缺陷密度标准

然而，对于Bug密度并没有固定的标准，研究表明，每千行代码中有一个缺陷，一般被认为是项目质量良好的标志。

影响缺陷密度指标的因素

• 代码复杂度
• 计算中考虑的缺陷类型
• 缺陷密度计算所考虑的时间长度
• 开发人员或测试人员的技能

缺陷密度的优势

• 它有助于衡量测试效果
• 它有助于区分组件/软件模块中的缺陷
• 它有助于确定需要纠正或改进的地方
• 它有助于指出高风险组件
• 它有助于确定各种资源的培训需求
• 它有助于评估由于错误而导致的测试和返工
• 它可以估计剩余的 缺陷 在软件中
• 在发布之前，我们可以确定我们的测试是否充分
• 我们可以确保数据库具有标准的缺陷密度